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M470微區(qū)掃描電化學(xué)工作站具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)
  • 發(fā)布時(shí)間 : 2018-05-16 15:55:56
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M470微區(qū)掃描電化學(xué)工作站具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)

掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)(SECM

交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM

間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM

微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)(LEIS)

掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測(cè)試系統(tǒng)(SVET

電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS

交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS

掃描開爾文探針測(cè)試系統(tǒng)(SKP

非觸式微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)(OSP


出色的性能

快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級(jí)研究的需求而特別設(shè)計(jì)。結(jié)合Uniscan 獨(dú)特的混合型32-bit DAC技術(shù),用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的最佳配置

先進(jìn)和靈活的工作平臺(tái)

系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù),使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺(tái)。

全面的附件

7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長(zhǎng)距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。


M470新產(chǎn)品特征

SECM自動(dòng)處理曲線

SECM用戶自定義處理曲線步長(zhǎng)變化

高分辨率讀取

手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)相位

M470同時(shí)具備如下特點(diǎn):

傾斜校正

X或Y曲線相減(5階多項(xiàng)式)

2D或3D快速傅里葉變化

實(shí)驗(yàn),探針移動(dòng)和區(qū)域繪圖的自動(dòng)排序

圖形實(shí)驗(yàn)測(cè)序引擎(GESE)

支持多區(qū)域掃描

所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖

峰值分析


M470是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng),具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)。

M470技術(shù)參數(shù)

工作站(所有技術(shù))

掃描范圍(x,y,z)           大于100nm

掃描驅(qū)動(dòng)分辨率 最高0.1nm

閉環(huán)定位                    線性零滯后編碼器,直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移

軸分辨率(x,y,z)            20nm

最大掃描速度                 12.5mm/s

測(cè)量分辨率                   32-bit解碼器@高達(dá)40MHz

壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))

振動(dòng)范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量




最小振動(dòng)分辨率          0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展            100μm

定位分辨率              0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機(jī)電

掃描前端                500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)

功率 250W

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