掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)(SECM)
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點(diǎn)擊測試系統(tǒng)(SVET)
電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)(SKP)
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)(OSP)
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站出色的性能:
1、快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計(jì)。
2、結(jié)合Uniscan 獨(dú)特的混合型32-bit DAC技術(shù),用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的最佳配置。
3、先進(jìn)和靈活的工作平臺。
4、系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù),使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
5、全面的附件。
6、7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站特征:
1、SECM自動處理曲線
2、SECM用戶自定義處理曲線步長變化
3、高分辨率讀取
5、手動或自動調(diào)節(jié)相位
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站同時(shí)具備如下特點(diǎn):
1、傾斜校正.
2、X或Y曲線相減(5階多項(xiàng)式)。
3、2D或3D快速傅里葉變化。
4、實(shí)驗(yàn),探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序。
5、圖形實(shí)驗(yàn)測序引擎(GESE)。
6、支持多區(qū)域掃描。
7、所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖。
8、峰值分析。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng),具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站技術(shù)參數(shù)
工作站(所有技術(shù))
掃描范圍(x,y,z):大于100mm
掃描驅(qū)動分辨率 :最高0.1nm
閉環(huán)定位:線性零滯后編碼器,直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z):20nm
最大掃描速度:12.5mm/s
測量分辨率 :32-bit解碼器@高達(dá)40MHz
壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))
振動范圍:20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率:0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展:100μm
定位分辨率 :0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機(jī)電
掃描前端:500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元:275×450×400mm(H×W×D)
功率:250W