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微區(qū)掃描電化學_百科

掃描電化學顯微系統(tǒng)(SECM)

交流掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)

間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)

微區(qū)電化學阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)

掃描振動點擊測試系統(tǒng)(SVET)

電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)

交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)

掃描開爾文探針測試系統(tǒng)(SKP)

非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)(OSP)


Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站出色的性能:

1、快速精準的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。

2、結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術,用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置。

3、先進和靈活的工作平臺。

4、系統(tǒng)可提供9種探針技術,使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。

5、全面的附件。

6、7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。


Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站特征:

1、SECM自動處理曲線

2、SECM用戶自定義處理曲線步長變化

3、高分辨率讀取

5、手動或自動調節(jié)相位


Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站同時具備如下特點:

1、傾斜校正.

2、X或Y曲線相減(5階多項式)。

3、2D或3D快速傅里葉變化。

4、實驗,探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序。

5、圖形實驗測序引擎(GESE)。

6、支持多區(qū)域掃描。

7、所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖。

8、峰值分析。


Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng),具有更高規(guī)格和更多探針技術。


Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站技術參數(shù)

工作站(所有技術)

掃描范圍(x,y,z):大于100mm

掃描驅動分辨率 最高0.1nm

閉環(huán)定位線性零滯后編碼器,直接實時讀出x,z和y位移

軸分辨率(x,y,z)20nm

最大掃描速度12.5mm/s

測量分辨率 32-bit解碼器@高達40MHz


壓電(ic-和ac-掃描探針技術)

振動范圍20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動分辨率0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展100μm

定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)


機電

掃描前端500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元:275×450×400mm(H×W×D)

功率250W

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